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德國(guó)Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)

德國(guó)Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào): 臺(tái)式

所屬分類:溫室植物表型

更新時(shí)間:2021-04-06

簡(jiǎn)要描述:德國(guó)Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)用于植物根系、莖干、果實(shí)、種子、葉片等分析,為研究提供數(shù)據(jù)和進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。該系統(tǒng)符合EN規(guī)范電氣安全線路要求。

詳細(xì)說(shuō)明:

德國(guó)Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

臺(tái)式CT斷層掃描儀用于植物根系、莖干、果實(shí)、種子、葉片等分析,為研究提供數(shù)據(jù)和進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。該系統(tǒng)符合EN規(guī)范電氣安全線路要求。另外,對(duì)特定客戶的需求,我們也提供個(gè)性化設(shè)備配置。比如您需要比技術(shù)參數(shù)更高的分辨率,或者需要測(cè)量的目標(biāo)尺寸超過(guò)了技術(shù)參數(shù)中的最大尺寸,重量或材料厚度等,我們會(huì)針對(duì)您的特殊應(yīng)用來(lái)提供解決方案。

 

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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

無(wú)損監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

適用于不同植物種子、根系等

可快速有效掃描種子

易于操作使用

通過(guò)螺旋掃描實(shí)現(xiàn)所有體積層的各向分辨率

用戶友好的控制軟件、專有圖像處理軟件

根據(jù)特定檢測(cè)任務(wù)調(diào)節(jié)系統(tǒng),降低成本

也適合土壤研究

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德國(guó)Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域

臺(tái)式CT斷層掃描儀不僅運(yùn)用于生物學(xué),如植物根系、莖干、果實(shí)、種子、葉片等分析,也適用于地質(zhì)學(xué)和考古學(xué)的大學(xué)或研究機(jī)構(gòu),也可用于對(duì)土壤結(jié)構(gòu)如團(tuán)粒結(jié)構(gòu)等進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),分析土壤和根系關(guān)系以及結(jié)構(gòu)等。

臺(tái)式CT斷層掃描儀提供一種快速可視的物體內(nèi)外結(jié)構(gòu)三維模式,在生物學(xué)、工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域里變得越來(lái)越重要。

種子分析:玉米、小麥等

植物生長(zhǎng)分析:葉片結(jié)構(gòu)、根系結(jié)構(gòu)等

土壤:土壤結(jié)構(gòu)等

地理學(xué)和考古學(xué):巖石樣品等

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測(cè)量技術(shù)描述

除了X光源以及高分辨率檢測(cè)器,此易于操作的設(shè)備本身還配有旋轉(zhuǎn)的操作系統(tǒng)。螺旋功能集成在操作控制軟件中,當(dāng)測(cè)試目標(biāo)旋轉(zhuǎn)360°后,可進(jìn)行垂直操作。該設(shè)計(jì)確保了高品質(zhì)測(cè)量結(jié)果,不產(chǎn)生無(wú)用制品,特別是在檢測(cè)多層結(jié)構(gòu)目標(biāo)時(shí)。根據(jù)樣品尺寸(參見(jiàn)技術(shù)參數(shù)),掃描可一步完成,之后便將測(cè)量數(shù)據(jù)保存以便瀏覽。系統(tǒng)自帶Fraunhofer EZRT研發(fā)中心開發(fā)的控制軟件,直觀友好的界面可逐步指導(dǎo)用戶進(jìn)行個(gè)性化設(shè)置,直至獲得所需結(jié)果,即便客戶沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)或沒(méi)有參加培訓(xùn)亦可進(jìn)行操作。有經(jīng)驗(yàn)的用戶可使用加強(qiáng)版軟件界面以對(duì)所有部件實(shí)現(xiàn)中心控制。在執(zhí)行測(cè)量前,可用備選功能實(shí)現(xiàn)模擬測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)

重量:150kg

軟件:Fraunhofer Volex;Fraunhofer VP

X-射線檢測(cè)器分辨率:49.5 μm

最大掃描面積:21cmX10cm

掃描方式:樣品360°轉(zhuǎn)動(dòng)

掃描時(shí)間:快速2-10分;高分辨率模式,60 - 80分

X-射線檢測(cè)器表面涂層:Gd2O2S閃爍體材質(zhì)

安全防護(hù):安全線路設(shè)計(jì),防輻射設(shè)計(jì)

掃描儀操作電壓: 230 V或380 V( 50 Hertz)

樣品升降操作距離:20cm 

像素?cái)?shù)(px):2304 x 1300

手動(dòng)定位放大倍數(shù):1.6倍(Φ140 mm)- 35倍(Φ 1 mm)

環(huán)境條件:操作溫度10℃-30 ℃,濕度10-85%,防塵

樣品操作旋轉(zhuǎn)臺(tái):n x 360°

利用CT斷層掃描儀篩選小麥耐旱耐熱性

提高小麥對(duì)非生物脅迫的耐受性,需要對(duì)產(chǎn)量構(gòu)成因素如粒數(shù)、單粒重等進(jìn)行大規(guī)模篩選,這些都是非常費(fèi)時(shí)費(fèi)力的,而對(duì)種子形態(tài)的詳細(xì)分析在視覺(jué)上往往是不可能的。計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)為更快速、更準(zhǔn)確地評(píng)估產(chǎn)量構(gòu)成因素提供了機(jī)會(huì)。通過(guò)對(duì)種子和穗部形態(tài)的詳細(xì)分析來(lái)評(píng)估不同脅迫條件下不同品種小麥種子的性狀。對(duì)203份不同品種小麥的X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描分析結(jié)果表明,該方法能夠以 95-99%的準(zhǔn)確率評(píng)估小麥結(jié)實(shí);大多數(shù)暴露在干旱和高溫脅迫下的材料都發(fā)育出較小的、干癟的種子,種子表面增加;與干旱相比,干旱和高溫疊加作用顯著降低了種子重量、穗粒數(shù)和單粒大小,*測(cè)定了干旱和高溫聯(lián)合脅迫下的種子皺縮和胚芽變形等形態(tài)性狀。CT斷層掃描分析方法可以檢測(cè)小麥、小麥穗甚至單粒種子之間的微小遺傳差異,這對(duì)于提高糧食產(chǎn)量和生產(chǎn)有韌性的品種至關(guān)重要。更重要的是,該方法是易于自動(dòng)化的,能夠以很高的分辨率在短時(shí)間內(nèi)完成大批量小麥麥穗的表型分析。在大規(guī)模的遺傳研究和育種計(jì)劃中,每年都要對(duì)大量材料進(jìn)行實(shí)地評(píng)估,這一分析處理能力與遺傳研究和育種計(jì)劃相適應(yīng)。

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參考文獻(xiàn)

Jessica S, Joelle C , Norbert W, Anja E, Delphine F, Trevor G, Stefan G. (2020). Drought and heat stress tolerance screening in  wheat using computed tomography. Plant Methods, 16:15



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